Abstract
© 2012 IEEE
PDF ArticleMore Like This
M. S. Tahvili, Y. Barbarin, X. J. M. Leijtens, T. de Vries, E. Smalbrugge, J. Bolk, H. P. M. M. Ambrosius, M. K. Smit, and E. A. J. M. Bente
Opt. Lett. 36(13) 2462-2464 (2011)
Vladyslav Cherniak, Marlene Zander, Martin Moehrle, Wolfgang Rehbein, and Jan C. Balzer
Opt. Express 30(19) 34411-34419 (2022)
K. Merghem, A. Akrout, A. Martinez, G. Moreau, J.-P. Tourrenc, F. Lelarge, F. Van Dijk, G.-H. Duan, G. Aubin, and A. Ramdane
Opt. Express 16(14) 10675-10683 (2008)